الکترونیک و نیمه هادی ها

تکنیک های آماری، روش های جمع آوری آنها و تحلیل و تفسیر داده ها برای طرح و کنترل فرآیندها جهت ساخت نیمه هادی ها به کار برده می شوند. مفاهیم آماری، آزمایشات مقایسه ای ساده، تحلیل واریانس، تصادفی کردن، تکرار کردن و بلوک بندی، عاملی کامل، عاملی کسری، سطح پاسخ، طرح های آشیانی و طرح های تجزیه ، همگی کاربرد فراوانی در ساخت نیمه هادی ها دارند. از آنجایی که این روش ها، روش های سیستماتیک هستند می توانند مثلاً برای تحلیل همزمان تأثیر عوامل زیان گوناگون در ساخت ویفر نیمه رسانا مورد استفاده قرار گیرند.

امروزه شرکت های پیشرو در ساخت نیمه هادی ها مانند Intel بهره وری های فراوانی از این روش در ساخت محصولات خود می کند. تکنیک های بهینه سازی می توانند در کاربرد هایی مانند پارامتر های پراکندگی ساخت در طراحی یک مدار مجتمع برای یک ویفر نیمه هادی مورد استفاده قرار گیرند. ساخت نیمه رسانا  Process Corner یک مثال از تکنیک بهینه سازی آماری است که به پارامترهای پراکندگی ساخت اشاره دارد و در طراحی مدارات مجتمع برای یک ویفر نیمه رسانا مورد استفاده قرار می گیرد.

Process Corner ها تعداد زیادی از این پارامتر های پراکندگی را در داخل مدار نشان می دهند. یک مدار زمانی که روی وسایلی که توسط این Process Corner ها ساخته شده اجرا می شود، ممکن است که سریع تر یا آهسته تر از آن چیزی که انتظار می رود کار کند( در دما یا ولتاژ های بالا و پایین). به منظورتأیید نیرومند بودن (تحت شرایط محیطی به خوبی کار کند) یک طرح مدار مجتمع، سازندگان نیمه رسانا  Corner-Lots هایی خواهند ساخت که گروهی از ویفرها در آن وجود دارد و در آن پارامتر های فرآیند نسبت به این عوامل تنظیم می شود (ولتاژ و دما)، سپس وسایلی که از این ویفر های خاص ساخته می شوند در شرایط مختلف محیطی از قبیل ولتاژ، پالس ساعت و دما مورد تست قرار می گیرند.

  • اشتراک گذاری:

اگر سوالی دارید، با ما تماس بگیرید

کارشناسان پراجیس پاسخگوی شما هستند

3003 4444 - 013